PAT 零部件平均測(cè)試
隨著新能源和無(wú)人駕駛汽車快速發(fā)展，使得車規(guī)級(jí)芯片發(fā)揮著越來越重要的作用。相對(duì)于消費(fèi)類電子芯片，車規(guī)芯片的質(zhì)量要求更加苛刻。
AEC-Q001規(guī)范中提出了參數(shù)零件平均測(cè)試（Parametric Part Average Testing, PPAT）方法。PAT 是用來檢測(cè)外緣（Outliers）半導(dǎo)體組件異常特性的統(tǒng)計(jì)方法，用以將異常組件從所有產(chǎn)品中剔除。
上揚(yáng)軟件PAT（Part Average Testing）零部件平均測(cè)試，不僅包括常見的靜態(tài)SPAT（Static PAT）、動(dòng)態(tài)DPAT（Dynamic PAT，還包括先進(jìn)的區(qū)域聚集性PAT（Geographic PAT）剔除功能，使得PAT應(yīng)用更加多樣、科學(xué)。
區(qū)域聚集性PAT是為所有在晶圓上的裸晶加入鄰近性權(quán)重，因此一些被不良裸晶包圍或鄰近的良好裸晶，可能會(huì)被移除。其核心思想是通過良品坐標(biāo)周圍的不良品數(shù)量，或者通過不良品...
區(qū)域聚集性PAT是為所有在晶圓上的裸晶加入鄰近性權(quán)重，因此一些被不良裸晶包圍或鄰近的良好裸晶，可能會(huì)被移除。其核心思想是通過良品坐標(biāo)周圍的不良品數(shù)量，或者通過不良品的聚集性找出有風(fēng)險(xiǎn)的芯片。分別對(duì)應(yīng)正向、反向兩種搜索剔除算法。
動(dòng)態(tài)PAT是根據(jù)當(dāng)前Wafer測(cè)試參數(shù)的測(cè)試值計(jì)算當(dāng)前WaferPAT參數(shù)的統(tǒng)計(jì)值（如中位數(shù)、均值、Sigma），再根據(jù)上下限的Sigma設(shè)置倍數(shù)得出上下PAT管控線，最后根據(jù)每個(gè)die的實(shí)測(cè)...
動(dòng)態(tài)PAT是根據(jù)當(dāng)前Wafer測(cè)試參數(shù)的測(cè)試值計(jì)算當(dāng)前Wafer PAT參數(shù)的統(tǒng)計(jì)值（如中位數(shù)、均值、Sigma），再根據(jù)上下限的Sigma設(shè)置倍數(shù)得出上下PAT管控線，最后根據(jù)每個(gè)die的實(shí)測(cè)值與管控線得出die的Pass/Fail。
靜態(tài)PAT根據(jù)測(cè)試歷史數(shù)據(jù)計(jì)算產(chǎn)品PAT參數(shù)的統(tǒng)計(jì)值（如中位數(shù)、均值、Sigma），再根據(jù)上下限的Sigma設(shè)置倍數(shù)計(jì)算出上下PAT管控線，最后根據(jù)每個(gè)die的實(shí)測(cè)值與管控線得出die的Pass/Fail。
靜態(tài)PAT根據(jù)測(cè)試歷史數(shù)據(jù)計(jì)算產(chǎn)品PAT參數(shù)的統(tǒng)計(jì)值（如中位數(shù)、均值、Sigma），再根據(jù)上下限的Sigma設(shè)置倍數(shù)計(jì)算出上下PAT管控線，最后根據(jù)每個(gè)die的實(shí)測(cè)值與管控線得出die的Pass/Fail。
FA PAT支持多種測(cè)試文件格式，采用多線程技術(shù)，自動(dòng)監(jiān)聽測(cè)試文件，輸出PAT結(jié)果文件，也可直接將結(jié)果數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)或推送給其它系統(tǒng)。
FA PAT與機(jī)臺(tái)軟件運(yùn)行在同一局域網(wǎng)內(nèi)，可直接訪問文件服務(wù)器，自動(dòng)對(duì)機(jī)臺(tái)軟件產(chǎn)生的測(cè)試文件進(jìn)行PAT計(jì)算，從而產(chǎn)生結(jié)果文件，存儲(chǔ)在文件服務(wù)器上。
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